?數(shù)據(jù)分析基礎(chǔ)及MSA測量系統(tǒng)分析 |
1.1 總體與樣本 |
- 樣本均值的分布—標準正態(tài)分布及T分布
- 雙樣本均值差分布
- 正態(tài)樣本方差的分布—卡方分布
- 獨立正態(tài)樣本方差之比的分布—F分布
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1.2 中心極限定理
1.2 參數(shù)的點估計 |
- 點估計的概念
- 點估計的評選標準
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1.3 MSA測量系統(tǒng)
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- 分辨力與穩(wěn)定性
- 偏倚和線性
- 測量重復性和再現(xiàn)性
- 測量走勢圖
- 測量線性研究
- 屬性測量R&R 研究(計數(shù))
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1.4 均值檢驗
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- 單樣本Z測試
- 單樣本T測試
- 雙樣本T測試
- 成對T測試
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1.5方差檢驗
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- 單正態(tài)總體方差檢驗
- 雙總體等方差檢驗
- 多樣本等方差檢驗
- 單因子方差分析
- 單因子ANOVA分析基本原理
- 單因子ANOVA分析練習
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1.6 比率檢驗
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- 單因子比率檢驗
- 雙因子比率檢驗
- 列聯(lián)表與卡方檢驗
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1.7 中位數(shù)檢驗
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- 符號檢驗法
- 秩和檢驗法
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相關(guān)與回歸及SPC控制圖 |
2.1單因子方差分析 |
2.2 相關(guān)分析 |
2.3簡單線性回歸分析 |
2.4 線性回歸方程的建立 |
2.5 線性回歸方程顯著性檢驗 |
2.6 回歸系數(shù)的顯著性檢驗 |
2.7 殘差診斷 |
2.8利用回歸方程進行預測 |
2.9 QC控制圖-SPC |
2.10計量控制圖 |
- Xbar-R Chart
- Xbar-S Chart
- I-MR-R/S Chart
- 子組控制圖
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2.11 計數(shù)控制圖 |
- P Chart
- NP Chart
- C Chart
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2.12 過程能力分析
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- 計數(shù)型數(shù)據(jù)過程能力分析
- 計量型數(shù)據(jù)過程能力分析
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試驗設(shè)計DOE基礎(chǔ) |
3.1 試驗設(shè)計基礎(chǔ)
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- 試驗設(shè)計基本術(shù)語
- 試驗設(shè)計基本原則
- 試驗設(shè)計類型
- 試驗設(shè)計基本步驟
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3.2 單因子試驗設(shè)計 |
3.3 全因子試驗設(shè)計
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- 二水平全因子試驗設(shè)計
- 全因子設(shè)計的計劃
- 全因子設(shè)計的分析
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3.4 部分因子試驗 |
3.5響應(yīng)曲面試驗設(shè)計
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- 響應(yīng)曲面試驗設(shè)計概論
- 響應(yīng)曲面試驗設(shè)計計劃
- 響應(yīng)曲面試驗分析
- 響應(yīng)曲面試驗最優(yōu)分析
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